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ST的開關(guān)電源芯片炸裂問題,怎么辦?。壳蠼?/h2>

發(fā)布時(shí)間:2015-09-01 責(zé)任編輯:sherry

【導(dǎo)讀】最近遇見一個(gè)棘手的問題:ST的開關(guān)電源芯片炸裂問題損壞板上的D2正常,如果是因?yàn)殡娏鬟^大導(dǎo)致?lián)p壞,為什么D2沒有被擊穿?這與我們做的破壞性試驗(yàn)不相符???還有其他什么原因?qū)е滦酒眩?
 
最近我們公司的洗衣機(jī)控制板電源部分在客戶運(yùn)行中出現(xiàn)開關(guān)電源芯片炸裂的現(xiàn)象,先將原理圖截圖如下:
開關(guān)電源芯片炸裂
客戶反饋回來的板子參數(shù)測(cè)量如下:
 
1、D3塑封殼可見內(nèi)部金屬部分;萬用表二極管檔測(cè)量正反方向均為無窮大;
 
2、D2 外觀完好,二極管檔測(cè)試正常,正向:0.479,反向:無窮大;
 
3、D1 外觀完好,二極管檔測(cè)試如下:正向:0.476,反向:無窮大;對(duì)比正常板(未拆元件在板上測(cè)量)正向:0.414,反向:0.742;
 
4、L1電感設(shè)計(jì)參數(shù):1.5mH ,實(shí)際測(cè)量418mH,顯然已經(jīng)開路。
 
我們做了破壞性試驗(yàn)想找到芯片炸裂原因,發(fā)現(xiàn)短接二極管D2,芯片炸裂,與客戶退回來的損壞板炸裂一樣,我有疑問,損壞板上的D2正常,如果是因?yàn)殡娏鬟^大導(dǎo)致?lián)p壞,為什么D2沒有被擊穿?這與我們做的破壞性試驗(yàn)不相符???還有其他什么原因?qū)е滦酒眩?/div>
 
 此芯片有過溫保護(hù),短接Z1后出現(xiàn)過溫保護(hù);
 
請(qǐng)各位幫忙分析一下,此電路元件選型需要改進(jìn)嗎?
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