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USB 3.0測試標(biāo)準(zhǔn)將于09年6月底出臺

發(fā)布時(shí)間:2009-03-12 來源:技術(shù)在線

新聞事件:
  • 新一代USB“USB 3.0”的兼容性測試標(biāo)準(zhǔn)有望于2009年上半年出臺
事件影響:
  • 預(yù)計(jì)09年底之前USB-IF會舉行最初的測試認(rèn)證大會“Compliance Workshop”。
  • 支持取得USB-IF認(rèn)證的USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)的最終產(chǎn)品有望于2010年前后面世

新一代USB“USB 3.0”的兼容性測試標(biāo)準(zhǔn)有望于2009年上半年出臺。參與測試標(biāo)準(zhǔn)制定的美國安捷倫科技(Agilent Technologies)表示,預(yù)定于09年6月底之前推出“Test Specification 1.0”。這是安捷倫公司的USB應(yīng)用產(chǎn)品經(jīng)理Jim Choate在09年3月6日于東京都內(nèi)舉行的研討會“USB 3.0―SuperSpeed USB的沖擊”上宣布的。

Choate表示,將從測試標(biāo)準(zhǔn)出臺后的09年下半年開始進(jìn)行發(fā)送電路及接收電路的兼容性測試。之后,預(yù)計(jì)09年底之前USB-IF會舉行最初的測試認(rèn)證大會“Compliance Workshop”。支持取得USB-IF認(rèn)證的USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)的最終產(chǎn)品有望于2010年前后面世。

此外,Choate還表示,由USB-IF舉辦的USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)人員會議預(yù)定于09年5月中下旬在東京都內(nèi)舉行。
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